泰勒霍普森輪廓儀DUO產品介紹

泰勒霍普森粗糙度儀現(xiàn)場測量

泰勒霍普森粗糙度儀在現(xiàn)場檢測產品磨損和粗糙度的變化，預估產品的壽命。例如，檢測渦輪片表面粗糙度的變化，做為早期缺陷和效率損失的預警信號。

泰勒霍普森粗糙度儀用戶友好使用界面

surtronic duo泰勒霍普森粗糙度儀就像智能手機一樣簡單易用。用戶可以快速直觀地使用三按鈕菜單，體驗清晰的2.4英寸的工業(yè)彩色lcd屏幕。

泰勒霍普森粗糙度儀尺寸

什么是導塊？

surtronic duo是導塊式設備。導塊可引導傳感器沿著工件移動，使工件自身形成測量基準。此方法無需進行調平，通常可以輕松設置。而且測量回路較小，減輕了振動的影響。

導塊是測量儀的組成部分，半徑足夠大，避免了測量面上的高低不平引起的z值變化。測針和導塊在高度（z)方向的移動各自獨立，但在測量方向上同時移動。測針和導塊在z方向會記錄為表面偏差。

導塊會充當機械濾波器，去除組件的波紋度數據點，保留粗糙度數據。并且不會記錄超過導塊直徑的波長。

測針尺寸有何差別？

這些儀器使用半徑為5um的測針。它具有以下三方面特性，使得儀器能成為檢查粗糙度的便攜工具：

*耐用性-即使誤操作也不會輕易受損

*維護性-能輕松去除在使用過程中所積累的灰塵油污

*適用性-要用作濾波器，去除高的表面頻率，這些頻率在受控環(huán)境中的測量結果更可靠