菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischer代理特點(diǎn)
菲希爾X射線測(cè)厚儀配備了半導(dǎo)體探測(cè)器,由于有更好的信噪比,能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測(cè)量
菲希爾X射線測(cè)厚儀使用微聚焦管可以測(cè)量較小的測(cè)量點(diǎn),但因?yàn)槠湫盘?hào)量較低,不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)
底部C型開槽的大容量測(cè)量艙
菲希爾X射線測(cè)厚儀有彈出功能的快速、可編程XY平臺(tái)
菲希爾X射線測(cè)厚儀典型應(yīng)用領(lǐng)域
鍍層和合金的材料分析(還適用于薄鍍層和低含量成分)
來(lái)料檢驗(yàn),生產(chǎn)監(jiān)控
研究和開發(fā)
電子工業(yè)
接插件和觸點(diǎn)
黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
可以測(cè)量數(shù)納米薄的鍍層,如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
痕量元素分析
在有“高可靠性"要求的應(yīng)用中確定鉛(Pb)含量
硬質(zhì)鍍層分析