Helmut Fischer菲希爾涂層測(cè)厚儀儀器信息

菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischer代理特點(diǎn)：

菲希爾X射線測(cè)厚儀優(yōu)化的微區(qū)分析測(cè)試儀器

菲希爾X射線測(cè)厚儀根據(jù)X射線光學(xué)系統(tǒng)，可以對(duì)100 μm或更小的結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析

菲希爾X射線測(cè)厚儀能量強(qiáng)度，從而實(shí)現(xiàn)出色的精度

即使對(duì)于薄鍍層，測(cè)量的不確定度也有可能做到 < 1 nm

只適用于平面的或是接近平面的樣品

底部C型開槽的大容量測(cè)量艙

菲希爾X射線測(cè)厚儀通過(guò)快速、可編程的 XY 工作臺(tái)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量

XDV-u鍍層厚度測(cè)量?jī)x典型應(yīng)用領(lǐng)域

測(cè)量印刷線路板、引線框架和芯片上的鍍層系統(tǒng)

測(cè)量細(xì)小部件和細(xì)電線上的鍍層系統(tǒng)

分析微小結(jié)構(gòu)和微小部件的材料成分