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菲希爾XDL230 X射線測(cè)厚儀信息

更新時(shí)間:2024-09-24   點(diǎn)擊次數(shù):189次

菲希爾便攜式x射線測(cè)厚儀/費(fèi)希爾手持式射線鍍層分析儀/菲希爾熒光光譜儀Fischer Fischescope x-ray XAN 500是德國(guó)菲希爾公司眾多臺(tái)式x-ray光譜儀中一款便攜設(shè)計(jì)機(jī)型,可用于快速、無損地進(jìn)行鍍層測(cè)厚及材料分析。滿足DIN ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)。作為一款手持式XRF分析儀,常適合在生產(chǎn)線上檢查大型零件(如飛機(jī)零件,管道或渦輪葉片)上的鍍層。

菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測(cè)儀/X-RAY射線光譜測(cè)厚儀/X射線分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD是FISCHER產(chǎn)品中性能zui強(qiáng)大的X射線熒光儀器之一。菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測(cè)儀XDV-SDD配備了特別加大的硅漂移探測(cè)器(SDD)。50mm2的探測(cè)器窗口確保能快速而精-確地測(cè)量甚是小面積的測(cè)量點(diǎn)。此外,XDV-SDD儀器還配備了各種不同的濾波片,從而能為不同的測(cè)量任務(wù)建立*優(yōu)化的激發(fā)條件。XDV-SDD可以測(cè)量含量低于1000ppm的如汞、鉛等有害金屬元素。


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