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菲希爾XDL230 X射線測厚儀、金層測厚儀信息

更新時間:2024-12-04   點擊次數(shù):116次

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

XDL 230 特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

• 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻

• 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

• 測量印刷線路板

• 分析電鍍?nèi)芤?/p>

XDL230 有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高精度測量。

由于采用了 FISCHER 基本參數(shù)法,因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。


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