菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237

x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設(shè)計(jì)理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測量儀器系列，配備了馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的X/Y工作臺(tái)，當(dāng)保護(hù)門開啟時(shí)，工作臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到放置樣品的位置。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的可編程Z軸升降系統(tǒng)。

高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便定位測量位置。配備了激光點(diǎn)，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。

測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。

帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點(diǎn)的調(diào)整。

所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示，都可以通過功能強(qiáng)大而界面友好的WinFTM軟件在電腦上完成。

XDLM237型鍍層測厚及材料分析儀*DIN ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)，型式許可符合德國“Deutsche Rntgenverordnung-RV"法規(guī)規(guī)定。

為每次測量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件，儀器配備可電動(dòng)調(diào)整的多個(gè)準(zhǔn)直器和基本濾片。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。

FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM237系統(tǒng)有著出色的性和良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器，節(jié)省時(shí)間和精力。

由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。

菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237

x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數(shù)規(guī)格：

通用規(guī)格

X射線源