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Couloscope CMS2 Step測厚儀

更新時(shí)間:2024-06-15

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廠商性質(zhì):代理商

生產(chǎn)地址:

簡要描述:
Couloscope CMS2 Step測厚儀原理:STEPTest是在允許腐蝕的情況下用來同時(shí)測量電位差和多層鎳的鍍層厚度,該方法是這個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)。
品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,化工,石油,能源,電子

      Couloscope CMS2 Step測厚儀原理:STEPTest是在允許腐蝕的情況下用來同時(shí)測量電位差和多層鎳的鍍層厚度,該方法是這個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)。

  COULOSCOPECMS2STEP的簡介:CouloScopeCMSSTEP在電鍍行業(yè)中,對多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度和電極電位的測定變成了一個(gè)越來越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個(gè)鎳層間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個(gè)鎳層的穿透速度,并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護(hù)。COULOSCOPECMSSTEP多層鎳測厚儀器根據(jù)庫侖電量分析法進(jìn)行測量,符合DINENISO2177、50022和ASTMB764標(biāo)準(zhǔn)通過電位差測試儀器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進(jìn)行測量。可以用于測量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。

  COULOSCOPECMSSTEP可以通過定位于電位-時(shí)間表中相關(guān)部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個(gè)圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。

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      多層鎳鍍層的品質(zhì)控制需要能在電鍍完成后立刻檢查厚度和電位差的儀器。Couloscope CMS2 Step測厚儀就是為這個(gè)目的而設(shè)計(jì)的,它操作簡單,參比電極使用起來也不復(fù)雜,非常適合電鍍工廠苛刻環(huán)境下的這種應(yīng)用。

  電鍍鎳層用作電解保護(hù)和提高機(jī)器表面屬性,如硬度等。特別是汽車工業(yè)中,電鍍鎳部件在防腐蝕方面要滿足很高的要求。單一鎳層無法滿足該要求。因此,目前正在開發(fā)非常復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),其中包含兩層、三層甚至四層鍍鎳層,還有鉻或銅鍍層。

  厚度測量儀采用了可自動(dòng)升降的測量探頭,使得測量儀的測量作業(yè)變得更加靈活,能夠適應(yīng)各種測量場合,被測物體種類也變得更加豐富。而普通的測量儀并沒有這個(gè)特性,其固定式的測量探頭使得它的測量作業(yè)有很大的局限性,適用范圍遠(yuǎn)遠(yuǎn)不足該種厚度測量儀。


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