菲希爾Fischer X熒光射線測(cè)厚儀

菲希爾Fischer X熒光射線測(cè)厚儀

XAN215 X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀

菲希爾x射線測(cè)厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

Fischer X射線測(cè)厚儀用于珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

Fischer X射線測(cè)厚儀 黃金制品和K金制品分析

鉑金制品和銀制品分析

銠制品分析

其他合金分析和鍍層厚度測(cè)量

多鍍層厚度測(cè)量 

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾測(cè)厚儀是一款入門(mén)級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢(qián)幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。Fischer測(cè)厚儀菲希爾x熒光射線測(cè)厚儀它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），多可同時(shí)測(cè)定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。

無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司起源于美國(guó),英國(guó),德國(guó)和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務(wù),光學(xué)儀器、測(cè)量?jī)x器、無(wú)損檢測(cè)、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、測(cè)量工具測(cè)量工具和其他類(lèi)型的測(cè)試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測(cè)量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測(cè)量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。